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超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪

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产品名称: 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪
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简单介绍

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理, 即在一定的波长光波下,通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光束来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm -1000 um。一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度MProbe薄膜测厚仪尺寸非常小巧,8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室,产品质量检测,研发使用。

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪的详细介绍
 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪特点:

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪应用广泛:(a) 太阳能光伏薄膜领域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe(b) LCD, FPD领域-ITO, Cell Gaps, Polyamides(c) 光学薄膜领域-介质滤波器,加硬膜,减反射膜;(d) 半导体和电解质领域-Oxides, Nitrides, OLED stack

 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪即时测量和数据分析

 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪强大的数据库:已经有了500多种常用的材料参数,新的材料也容易添加,并能根据需要添加相应的材料特性参数-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA

 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪连接方便,使用自如:不管实在实验室独立使用,还是在研发或者是工厂连续生产中不间断在线持续监测膜层厚度,都能在10分钟内完成安装,与电脑或是网络的连接十分方便

 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪测量数据完整:除了膜层的厚度,还能测量光学参数和表面平整度

 

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪使用人性化,功能强大:一键式操作即可完成膜层厚度测量和分析;强大的工具-仿真功能,内部自我纠正,多样品测量,动态监测和产品批量监测.

产品尺寸

8″x 4″x10″

测量精度

<0.01nm or 0.01% 

稳定性

<0.02nm or 0.03% 

光斑尺寸

2mm to 3u

样品大小

可以小至1 mm

测量范围

1 nm - 1000 um

波长范围

200nm -8000nm 










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